射频识别系统（RFID）一般由阅读器（PCD）和应答器（PICC）两部分组成。一台典型的阅读器包含有高频模块（发送器和接收器）、控制单元以及与应答器连接的耦合元件[1]。应答器是射频识别系统真正的数据载体。通常，应答器由耦合元件以及微电子芯片组成，应答器没有自己独立的供电电源，只是在阅读器的响应范围之内，接受来自阅读器的射频电源，应答器工作所需要的能量，如同时钟脉冲和数据一样，是通过耦合单元非接触传输而获得的[2]，因此，实现耦合的元件——天线，在本系统中具有关键作用，天线的设计直接关系到系统的通信距离和数据传输的可靠性。下面主要以射频基站芯片[URL=http://www.qooic.com/Detail-U2270B.html]U2270B[/URL]为例，讨论射频识别系统的天线设计。
在RFID系统中有两个LC电路：由基站线圈和连接电容组成的LRCR电路以及由应答器线圈和连接电容组成的LTCT电路。在单线圈系统中，要求两个LC电路调谐在相同的谐振频率上。属于基站和应答器的谐振频率不匹配，零调制就会产生，从而降低系统的性能，在系统设计成型后，天线的电感是固定的，因此要改变LC电路的谐振频率，只有调节电路中的电容量。
阅读器基站天线是由电感、电容和电阻组成的串联谐振电路。如图1所示。其特性用谐振频率F0和Q因子表示[3]。f0是RFID系统的工作频率，由天线的电感和电容共同决定，可以由式（1）来计算：
一般设计采用阅读器工作在单一频率的模式，对[URL=http://www.qooic.com/Detail-U2270B.html]U2270B[/URL]而言，可以取f0＝125kHz。Q因子（QR）与天线的带宽B和谐振频率f0的关系为B＝f0/QR。高QR值会得到较高的阅读器天线电压，从而可增加传输到应答器的能量，高QR值的缺点是减小了天线带宽，进而当应答器频率发生偏移时减小了应答器所感应的数据信号电压，从而导致射频卡的解调困难[4]而无法正常工作。耦合因子为阅读器基站的电磁场产生线圈和应答器之间的耦合，耦合因子取决于系统的结构残素，直接影响阅读器与应答器的阅读距离。优化耦合因子将对能量传输通道和信号传输通道有利。为确定耦合因子，可利用Temic公司提供的试验应答线圈（TTC）及电路进行测试。QR的取值范围要控制在5～15，一般取QR＝12，可以适合于大多数应用情况的要求，如果天线的电感确定，那么QR因子可以通过式（2）由RR进行调整：
